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TESA hite plus D一维测高仪 功能 ◆可测量孔径、孔距、高度、台阶、角度、直线度、平面度、垂直度、 平行度径向跳动、轴向跳动以及二维尺寸。 ◆曲面自动找极值点。 ◆彩色12位电子柱显示。 ◆声光信号自动登录与传输数据 ◆RS232输出
| 仪器名称 |
TESA hite plus D一维测高仪 |
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| 仪器型号 |
TESA hite plus D |
| 所素类别 |
测高仪 |
| TESA hite plus D一维测高仪的产品介绍: |
产品特点
◆产品本身防水、防油、防尘、可适应任何环境。
◆适合现场及质检室的量检及抽检
◆产品本身具有线形补正，可依现场环境做精度补正，以提高精确度，避
免环境误差。
◆可提供多种测量，解决一般工具无法测量的问题，一台本机即可解决所
有量测问题，是厂里的最佳测量工具
每个样品都提供下列标准配件
◆1个标准支架 00760168
◆1个标准内置式直径5mm的TC球 00760164
◆1个控制件 00760150
◆1个GV电池包 04768035
◆1个主体适配器 04761054
◆1条主体EU电缆 04761055
功能
◆可测量孔径、孔距、高度、台阶、角度、直线度、平面度、垂直度、
平行度径向跳动、轴向跳动以及二维尺寸。
◆曲面自动找极值点。
◆彩色12位电子柱显示。
◆声光信号自动登录与传输数据
◆RS232输出
技术参数
◆测量间距：615mm
应用范围：770mm
◆最大不垂直度及直线度≤8μm
◆精度：测量值不确定度（2+3*L） Mm（L被测长度，单位为M）
◆重复性 ±s=⒔≤1μm
◆最大测量速度 300mm/s
◆测量力 1.6N±0.25N
高级控制台
单坐标与双坐标测量，单坐标及双坐标测量程序的编辑及执行带有公差限制及基本统计功能（平均值、CP值、CPK值等），测量符合ISO1101的垂直度及直线度；测量角度，集成化点阵打印机；PCMCIA卡读出器用于存贮测量程序及测量结果；在打印机上直接打印A4格式文件；
分辨率 0.0005/0.001/0.01/0.1mm 或 0.00002/.0001/.00/.01/.1m
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测量跨度 |
365mm |
615mm |
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应用范围（使用标准内置支架07.60168）
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520 |
770 |
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应用范围（使用内置支架07.60057）
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575 |
825 |
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应用范围（使用内置支架S07001622）
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745 |
995 |
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最大允许误差 |
(3+6L)μm(Lmm)
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重复性 |
12s=<2μm
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最大垂直误差 |
10μm
15μm |
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决议 |
0.001/0.005mm
.0001/.0002in |
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移动速度 |
0.5m/s |
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测量压力 |
1.6N±0.5M（声音提醒）
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自动性 |
100h |
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气垫 |
Yes |
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电池 |
6v battery pack
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数据输出 |
RS232 |
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保护程度 |
IP40 |
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储藏温度限制 |
-10oC to 60oC
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使用温度限制 |
10oC to 40oC
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选择 |
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气胎配件组合代号00760217包括：
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√2个气胎连接器 √1个压力校准器
√2米塑料管
气胎组件带电动抽气泵 代号00760218 |
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[MICRO-HITE PLUS 二维自动测高仪]
[TESA MICRO-HITE数显测高仪]
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