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JB-6C触针式表面粗糙度测量仪
★ 本仪器系贯彻GB/T 6062-2002(eqv ISO3274:1996)标准试制的2003年新产品。
★ 仪器每评定段水平取样达1600点，最小间距0.5μm, 16bit的分辨率使有效灵敏度高达0.001μm。
★ 天然钻石触针无导头式640μm线性范围新型传感器。
★ 除提供Ra，Rz，Rt，Rp，Rpm等20余种参数外，还能提供内燃机专用TP曲线参数。
★ 本机有高斯滤波器及2CR滤波器可供选择，并带有曲线修正软件，能测量曲面上的粗糙度。
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本机在Win操作系统下界面十分友好稳定。测量软件符合粗糙度定义，可高精度的工作；使用简单方便，能在计算机内贮存测量结果、数据、图形；编辑统计平均值等测量数据，便于网络传输。
★ 选配轮廓传感器能测量原始轮廓。
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主要技术指标 |
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测量参数 |
Ra、Rz、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、RS、RSm、RSk、Rk |
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最大测量长度 |
25mm |
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直线度测量精度 |
0.4μm |
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滤波器 |
高斯(Gaussian)滤波器（ISO11562:1996），RC滤波器 |
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截止波长 |
0.25，0.8，2.5 |
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测量重复性 |
4% |
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相对示值误差 |
±7% |
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示值稳定性 |
4% |
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测量长度 |
λc ╳3、4、5、6、7（1.0-17.5mm） |
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测量范围 |
640μm |
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分辨率 |
0.001μm |
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测量速度 |
0.1mm/s，0.32mm/s，0.5mm/s |
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返回速度（自动） |
1mm/s |
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传感器针尖 |
2μm；5μm钻石、测量力1mN；4mN |
标准配置 6C驱动器；
无导头传感器6C2-T1E；
大理石升降立柱；
X-Y精密工作台；
粗糙度及轮廓仪专用软件Profile Application V1.2;
工控专用境外品牌16位A/D数据采集卡PCI（经改制）;
选配 电脑微机系统（可根据用户需要配用工控机或自行选配）;
本公司长期从事纳米级轮廓、粗糙度测量仪器的研发生产。高精度的仪器装调和合理的模拟电路设计使得仪器具有高分辨率(1纳米)、低残余轮廓峰值(仅几十纳米)，确保了高精度测量下数据的可靠性。独特、灵巧的传感器安装方便、不易损坏，保证了测量粗糙度时的高灵敏度和重复性。本公司设计生产的仪器使用简单、故障率低，优质的现场售后服务深受用户欢迎。
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